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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
絕緣電阻長期劣化測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：Huace
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2026-03-03
產(chǎn)品簡介：
華測儀器絕緣電阻長期劣化測試系統(tǒng)應(yīng)用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、密度高的封裝材料。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
華測儀器絕緣電阻長期劣化測試系統(tǒng)
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
絕緣電阻長期劣化測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，記錄電阻值的變化狀況、絕緣電阻隨時間的衰減曲線、劣化速率及失效時間，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響，為材料選型與壽命評估提供依據(jù)。離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。
產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)指標(biāo)
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續(xù)運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×105 ~ 1×1015Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
應(yīng)用領(lǐng)域
電子材料：印BGA、CSP等節(jié)距IC封裝件
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、密度高的封裝材料
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估
京公網(wǎng)安備11011302007502號