高溫壓電常數(shù) d33 測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：HPZT-800

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-11

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HPZT-800高溫壓電常數(shù) d33 測試系統(tǒng)是采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，設(shè)計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測試儀器。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測

HPZT-800高溫壓電常數(shù) d33 測試系統(tǒng)

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HPZT-800高溫壓電常數(shù) d33 測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，該儀器可以分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可應用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試，是采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度效果好，測量量程范圍寬，可靠性提升，操作便捷。

產(chǎn)品特點

1、采用主流FPGA設(shè)計，實現(xiàn)30Hz~140Hz寬范圍測量；

2、采用高阻放電荷放大器，減小測量過程中的損耗；

3、采用直流線性加熱，減少渦流加熱噪聲；

4、采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷。

產(chǎn)品參數(shù)

儀器參數(shù)

測試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz~140Hz

精度：±0.1Hz

測試載荷：靜態(tài)力10N

振蕩測試載荷：0.05N~0.5N可調(diào)

電容測量范圍：10pF~0.1μF