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基礎信息Product information
產品名稱：
高溫塞貝克系數及電導率測試系統
產品型號：HC-RD-1100
廠商性質：生產廠家
所在地：北京市
更新日期：2026-03-12
產品簡介：
華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數及電導率測試系統支持 RT 至 1200℃ 寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求。
產品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
HC-RD-1100高溫塞貝克系數及電導率測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HC-RD-1100高溫塞貝克系數及電導率測試系統由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
產品參數
01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃
02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結構夾于兩電極之間
05.樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm
06.樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
09.電導率測量范圍:0.01~2*105s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
10.電源:0~1A，具有長期穩定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
京公網安備11011302007502號